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半導體芯片在做高低溫測試注意事項
點擊次數:1044 更新時間:2023-04-28

半導體芯片在做高低溫測試注意事項:

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1、半導體芯片高低溫試驗箱是模擬環境的試驗箱,在使用時,試驗箱內可能會有各種惡劣的環境,例如較低溫、較高溫、高低溫循環等條件。
如果試驗箱中正在進行-70℃的較低溫測試,這時候打開試驗箱門,先寒冷的氣流則會溢出試驗箱,在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會造成蒸發器結霜,進而影響降溫速度,嚴重地還可能造成壓縮機損壞等問題。
2、如果試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時打開試驗箱門,高溫氣體會瞬間沖出試驗箱,如果操作人員未做好防護工作,高溫很有可能會灼傷我們的面部,試驗箱旁如果有易點燃物,甚至可能會起火。
3、如果是其他環境試驗設備,比如恒溫恒濕試驗箱在進行高溫高濕試驗時,儀器內的壓力和蒸汽也會特別大,如果在此時打開試驗箱門,也會有蒸汽沖出試驗箱,未做好防護的操作人員可能也會造成嚴重的灼傷。
所以,在半導體芯片高低溫試驗運行中途,若沒有必要情況下建議不要打開試驗箱門,如果需要使用中途打開試驗箱門,那么操作人員也一定要做好相關的防護措施,用正確的方法打開試驗箱門。


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